瓷粉激光粒径分析技术
激光粒径分析技术主要基于光的散射现象。当激光照射到瓷粉颗粒上时，会产生光的衍射和散射效应。大颗粒引发的散射光的散射角度小，小颗粒引发散射光的散射角大。激光粒度仪利用探测器接收散射光，根据散射光的角度和强度，按照预定的数学关系（基于Mie理论或Fraunhofer理论）进行拟合近似分析，从而得到瓷粉样品的粒度组成分析结果。
Bettersize2600：配置全自动干法&湿法分散系统，可对不同的瓷粉粒度测试进行系统研究。在湿法测试中，可对浸润和分散等因素进行考察；干法测试则可通过测试不同分散压力下瓷粉颗粒的粒径，系统考察分散能量对粒度测量结果的影响。
Bettersize1600：可用于瓷粉颗粒分析。电镜在测试颗粒形态方面是有力工具，但存在无法直接测试原始浆料、对团聚颗粒判断困难以及高额维护成本等问题，而Bettersize1600作为相对廉价且方便的光学仪器，有其独特优势。
分析技术优势
操作方便，分析速度快，能够在较短时间内得到瓷粉的粒径分析结果，满足了工业生产和科研中对快速检测的需求。
应用特性方面
具有测量范围宽、粒度分析快、重现性较好、非破坏性、以及可实现在线测量和样品回收等特点。对于瓷粉生产过程中的质量控制和实时监测具有重要意义。
结果准确性方面
中值粒径分析结果比较准确、稳定，能够为瓷粉产品的质量评估提供可靠依据，满足了粉体行业的基本需要。
分析技术缺点
分辨率问题
分辨率低，激光粒度仪分辨率的高低主要取决于传感器的多少。例如，目前通用的分析范围在0 -2000的激光粒度分析仪，传感器数量Zui多也就是150个，平均分布距离较大，不利于对瓷粉粒度进行更精细的区分。
存在不可校准、难以验证、物理意义不明确、拟合近似分析等问题。这些问题在对瓷粉粒度组成要求严格的应用场景中可能会影响质量控制
陶瓷分析
在陶瓷制备工艺过程中，瓷粉的粒度分布对于陶瓷的加工和性能都会产生非常直接的影响。从高倍率电镜下看瓷粉是几十纳米的微晶颗粒，但通过激光粒度仪却能得到几个微米甚至更大的结果。这是因为微晶大小和聚集体尺寸是同一个瓷粉材料的两种不同属性，电镜能很好地给出陶瓷晶体的微晶大小和形态，而激光粒度仪则能更好地给出团聚体大小和统计性分布。充分利用激光粒径分析技术和电镜等不同的分析工具，才能对瓷粉的特性进行更好的掌控，从而提高陶瓷产品的质量和性能。
